Electromigration in thin films and electronic devices - materials and reliability
- Författare
- (Edited by C.-U. Kim.)
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Woodhead Publishing | 2011 | Storbritannien, Cambridge | PDF (352 sidor.) | 978-0-85709-375-2 |